8 inča 200 mm Silicijum karbid SiC pločice 4H-N tip Proizvodni stupanj debljine 500 um

8 inča 200 mm Silicijum karbid SiC pločice 4H-N tip Proizvodni stupanj 500 um debljina Istaknuta slika

Kratki opis:

Shanghai Xinkehui Tech.Co., Ltd nudi najbolji izbor i cijene za visokokvalitetne pločice i podloge od silicijum karbida do prečnika 8 inča sa N- i poluizolacionim tipovima.Male i velike kompanije za proizvodnju poluvodičkih uređaja i istraživačke laboratorije širom svijeta koriste i oslanjaju se na naše pločice od silikonskog karbida.

Pošaljite nam email

Detalji o proizvodu

Oznake proizvoda

Specifikacija SiC podloge od 200 mm 8 inča

Veličina: 8 inča;

Prečnik: 200mm±0.2;

Debljina: 500um±25;

Orijentacija površine: 4 prema [11-20]±0,5°;

Orijentacija zareza:[1-100]±1°；

Dubina zareza: 1±0,25 mm;

Micropipe: <1cm2;

Hex ploče: nije dozvoljeno;

Otpornost: 0,015~0,028Ω;

EPD:<8000cm2;

TED:<6000cm2

BPD:<2000cm2

TSD:<1000cm2

SF: površina<1%

TTV≤15um；

Warp≤40um；

Luk≤25um;

Poli područja: ≤5%;

Ogrebotina: <5 i kumulativna dužina< 1 prečnik pločice;

Čipovi/udubljenja: nijedna ne dozvoljava D>0,5 mm širine i dubine;

Pukotine: Nema;

Mrlja: Nema

Rub oblatne: Chamfer;

Završna obrada: Double Side Polish, Si Face CMP;

Pakovanje: kaseta sa više vafla ili jedna posuda za vafle;

Trenutne poteškoće u pripremi 200mm 4H-SiC kristala ul

1) Priprema visokokvalitetnih 200mm 4H-SiC sjemenih kristala;

2) Neujednačenost temperaturnog polja velike veličine i kontrola procesa nukleacije;

3) Efikasnost transporta i evolucija gasovitih komponenti u sistemima rasta velikih kristala;

4) Pucanje kristala i proliferacija defekta uzrokovana povećanjem termičkog naprezanja velike veličine.

Za prevazilaženje ovih izazova i dobijanje visokokvalitetnih 200mm SiC pločica predlažu se:

Što se tiče pripreme sjemena kristala od 200 mm, proučeno je odgovarajuće polje temperaturnog polja i sklop koji se širi i dizajniran tako da uzme u obzir kvalitet kristala i veličinu ekspandiranja;Počevši od 150 mm SiC se:d kristala, izvršite iteraciju sjemenskog kristala kako biste postepeno proširili kristalnu SiC dok ne dostigne 200 mm;Kroz višestruki rast i procesiranje kristala, postupno optimizirajte kvalitet kristala u području širenja kristala i poboljšajte kvalitet kristala od 200 mm.

U pogledu 200 mm provodljivog kristala i pripreme supstrata, istraživanje je optimiziralo dizajn temperaturnog polja i polja protoka za rast kristala velikih dimenzija, izvođenje 200 mm provodnog rasta SiC kristala i kontrolu uniformnosti dopinga.Nakon grube obrade i oblikovanja kristala, dobijen je 8-inhelektrički provodljivi 4H-SiC ingot standardnog prečnika.Nakon rezanja, brušenja, poliranja, obrade kako bi se dobile SiC 200mm pločice debljine 525um ili tako nešto