N-tip SiC na Si kompozitnim podlogama dijametra 6 inča

Kratak opis:

N-tip SiC na Si kompozitnim podlogama su poluprovodnički materijali koji se sastoje od sloja n-tipa silicijum karbida (SiC) nanesenog na silicijumsku (Si) podlogu.


Detalji proizvoda

Oznake proizvoda

等级Ocjena

U 级

P级

D级

Nizak stepen BPD-a

Proizvodni razred

Dummy Grade

直径Prečnik

150,0 mm±0,25 mm

厚度Debljina

500 μm±25 μm

晶片方向Orijentacija pločice

Van ose: 4,0° prema < 11-20 > ±0,5° za 4H-N Na osi: <0001>±0,5° za 4H-SI

主定位边方向Primarni stan

{10-10}±5,0°

主定位边长度Primarna dužina ravne površine

47,5 mm±2,5 mm

边缘Isključenje ruba

3 mm

总厚度变化/弯曲度/翘曲度 TTV/Bow /Warp

≤15μm / ≤40μm / ≤60μm

微管密度和基面位错MPD i BPD

MPD≤1 cm-2

MPD≤5 cm-2

MPD≤15 cm-2

BPD≤1000 cm-2

电阻率Otpornost

≥1E5 Ω·cm

表面粗糙度Hrapavost

Poljski Ra≤1 nm

CMP Ra≤0,5 nm

裂纹(强光灯观测) #

Nijedan

Kumulativna dužina ≤10 mm, pojedinačna dužina ≤2 mm

Pukotine uzrokovane svjetlom visokog intenziteta

六方空洞 (强光灯观测)*

Kumulativna površina ≤1%

Kumulativna površina ≤5%

Šesterokutne ploče pod visokim intenzitetom svjetla

多型(强光灯观测)*

Nijedan

Kumulativna površina ≤ 5%

Politipizirana područja svjetlom visokog intenziteta

划痕(强光灯观测)*&

3 ogrebotine do 1× prečnika pločice

5 ogrebotina do 1× prečnika pločice

Ogrebotine od svjetlosti visokog intenziteta

kumulativna dužina

kumulativna dužina

崩边# Čip na ivici

Nijedan

5 dozvoljeno, ≤1 mm svaki

表面污染物 (强光灯观测)

Nijedan

Kontaminacija svjetlošću visokog intenziteta

 

Detaljan dijagram

WeChatfb506868f1be4983f80912519e79dd7b

  • Prethodno:
  • Sljedeće:

  • Napišite svoju poruku ovdje i pošaljite nam je