8-inčna silikonska pločica P/N-tip (100) 1-100Ω lažna regenerirana podloga

Kratak opis:

Veliki lager dvostrano poliranih pločica, sve pločice od 50 do 400 mm u promjeru. Ako vaša specifikacija nije dostupna na našem lageru, uspostavili smo dugoročne odnose s mnogim dobavljačima koji su u mogućnosti prilagoditi izradu pločica bilo kojoj jedinstvenoj specifikaciji. Dvostrano polirane pločice mogu se koristiti za silicijum, staklo i druge materijale koji se obično koriste u industriji poluprovodnika.

Pošaljite nam e-poštu

Karakteristike

Uvođenje kutije za oblatne

Silicijumska pločica od 8 inča je često korišten materijal za silicijumsku podlogu i široko se koristi u procesu proizvodnje integriranih kola. Takve silicijumske pločice se obično koriste za izradu različitih vrsta integriranih kola, uključujući mikroprocesore, memorijske čipove, senzore i druge elektroničke uređaje. Silicijumske pločice od 8 inča se obično koriste za izradu čipova relativno velikih veličina, s prednostima koje uključuju veću površinu i mogućnost izrade više čipova na jednoj silicijumskoj pločici, što dovodi do povećane efikasnosti proizvodnje. Silicijumska pločica od 8 inča također ima dobra mehanička i hemijska svojstva, što je pogodno za proizvodnju integriranih kola velikih razmjera.

Karakteristike proizvoda

8" P/N tip, polirana silicijumska pločica (25 kom)

Orijentacija: 200

Otpornost: 0,1 - 40 ohm•cm (Može varirati od serije do serije)

Debljina: 725+/-20um

Primarni/Monitor/Testni razred

MATERIJALNA SVOJSTVA

Parametar	Karakteristično
Vrsta/Dopant	P, bor N, fosfor N, antimon N, arsen
Orijentacije	<100>, <111> orijentacije odrezaka prema specifikacijama kupca
Sadržaj kisika	10^{19 godina}ppmA Prilagođene tolerancije prema specifikaciji kupca
Sadržaj ugljika	< 0,6 ppmA

MEHANIČKA SVOJSTVA

Parametar	Primarni	Monitor/Test A	Test
Prečnik	200±0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Debljina	725±20µm (standardno)	725±25µm (standardno) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standardno)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Luk	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Zamotaj	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Zaokruživanje ivica	POLUMESTANDARD
Obilježavanje	Samo primarno POLUMASNI, POLUMASTANDARDNI ravni Jeida ravni, zarez

Parametar	Primarni	Monitor/Test A	Test
Kriteriji prednje strane
Stanje površine	Hemijsko mehaničko poliranje	Hemijsko mehaničko poliranje	Hemijsko mehaničko poliranje
Hrapavost površine	< 2 Å	< 2 Å	< 2 Å
Kontaminacija Čestice @ >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Izmaglica, Jame Kora narandže	Nijedan	Nijedan	Nijedan
Pila, oznake Brazde	Nijedan	Nijedan	Nijedan
Kriteriji za zadnju stranu
Pukotine, bore oko vrata, tragovi pile, mrlje	Nijedan	Nijedan	Nijedan
Stanje površine	Kaustično nagrizeno